WJR-200AM氧化诱导时间测定仪
氧化诱导时间测定仪产品介绍:
氧化诱导时间测定仪是在程序温度下,测定物质氧化诱导时间的专业设备,是测定管材氧化诱导期的专业仪器。可以自动计记录管材、材料在氮气气氛中以恒定速度加热式样及参比物,当达到温度时,气氛切换为相同流速的氧气。之后样品在该温度下恒温,直到热曲线上显示有氧化反应发生。从氧气流开始流入的时刻,到发生氧化反应的时间间隔,既为氧化诱导期。仪器可以自动记录氧化诱导期温度、时间曲线,还可测量物质与参比物之间的温度差与温度关系。自动记录描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。还可以检测相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
氧化诱导时间测定仪技术参数:
1. 温度范围: 室温~1150℃
2. 量程范围: 0~±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升温速率: 1~60℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8. 温度控制: 升温: 可根据需要进行参数的调整
降温:风冷 程序控制 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温:程序控制 恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
10. 气氛控制: 气氛转换装置
11. 数据接口: RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示
13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15. 工作电源: AC 220V 50Hz
氧化诱导期测定仪仪器特点
产品名称
氧化诱导期测定仪
氧化诱导时间分析仪
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氧化诱导期仪
氧化诱导时间仪